4月28日下午，工程与材料科学实验中心高级工程师田杰在西区力学一楼237会议室为我院师生做“SEM技术原理、样品制备与科研前沿应用”学术报告。
本次报告聚焦扫描电子显微镜（SEM）的技术原理、样品制备及多领域应用，为科研工作者提供实用的技术指导与参考。扫描电子显微镜凭借高分辨率、强立体成像效果、宽放大倍数范围及简便的样品制备流程，在材料微区形貌与成分分析中占据不可替代的地位，已广泛渗透到材料科学、生物医学、半导体、地质、考古、纳米技术、药物研发及环境科学等多个领域。报告将系统梳理扫描电镜的核心成像原理与仪器结构，重点解析二次电子像与背散射电子像的成像特点，帮助参会者清晰掌握不同成像方式的适用场景。同时，结合实践经验分享扫描电镜样品制备的实用技巧，破解样品制备过程中的常见难题，并联动能谱（EDS）、电子背散射衍射（EBSD）等相关技术，展示扫描电镜在材料多维度表征中的前沿应用案例，助力科研工作者高效运用扫描电镜开展材料表征工作，提升相关科研工作的效率与质量。
报告结束后，参会师生围绕扫描电镜成像质量优化、样品制备难点、多技术联用技巧等问题积极提问，田杰博士逐一耐心细致解答，深入分享技术应用心得与解决方案。此次交流进一步加深了参会人员对扫描电镜技术的理解，为后续高效开展材料表征相关科研工作提供了有力支撑，也搭建了良好的学术交流平台。
报告人简介：
田杰博士，现任中国科学技术大学工程与材料科学实验中心高级工程师。自2006年起，长期专注于扫描电镜、透射电镜等技术的研究与应用，先后主持中国科学技术大学青年创新基金、中科院仪器性能开发等多个项目，合作发表SCI、EI论文五十余篇，在电子显微镜技术应用领域积累了丰富的实践经验与深厚的专业素养。
撰稿人：王敏 陈泽旭
（热科学和能源工程系）